電路板故障維修測(cè)試儀.

產(chǎn)品型號(hào)：GT4040UXP-Ⅱ

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高?？蓽y(cè)三端器件，另外有俄羅斯庫(kù)，西門子庫(kù)，可定量測(cè)試L，C，R參數(shù),,可對(duì)運(yùn)算放大器，光耦，三端電源進(jìn)行測(cè)試。 
電路板故障維修測(cè)試儀.

產(chǎn)品特點(diǎn)：  
在維修各種電子設(shè)備時(shí)，您是否常因圖紙資料不全而束手無(wú)策？您是否常因高昂的維 
修費(fèi)用而增添煩惱？ 

[GT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利 
用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原 
理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢 
測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。 



◆良好的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好 
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家 
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修 
◆40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)； 
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能 
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較 
◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便 
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試。 
◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試。  

技術(shù)規(guī)格： 
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作 
雙CPU工作，速度更快，效率更高。 
功能測(cè)試40×2通道 
VI曲線測(cè)試40×2通道 
雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試 
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電 
EPROM/RAM在線讀取 
模擬器件 VI曲線測(cè)試 
總線隔離信號(hào) 
中文維修筆記 

一、序言 
GT/ICT系列測(cè)試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系 

列，把GT/ICT測(cè)試儀發(fā)展到了一個(gè)新的階段，能夠更好的滿足用戶的實(shí)際需求。 
從測(cè)試技術(shù)方面來(lái)看，GT/ICT測(cè)試儀是“后驅(qū)動(dòng)”、“器件模擬端口分析（ASA）”測(cè)試技術(shù)的簡(jiǎn)單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項(xiàng)技 

術(shù)在上的發(fā)展，在總結(jié)了多年來(lái)的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上重新設(shè)計(jì)而成，因而有更好的測(cè)試效果；從產(chǎn)品的軟、硬件實(shí)現(xiàn)技術(shù)方面來(lái) 

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng)，主要由中小規(guī)模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺(tái)上打造，大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼 

裝器件等現(xiàn)代電路設(shè)計(jì)技術(shù)，因而具有更友好的人-機(jī)界面，更高的技術(shù)指標(biāo)和可靠性。  
全面提高技術(shù)水平的目的，是改進(jìn)、擴(kuò)充測(cè)試功能。為突出重點(diǎn)，先在本文中介紹對(duì)兩個(gè)常用的測(cè)試功能：“ASA（VI）曲線測(cè)試”、“數(shù) 

字器件在線功能測(cè)試”的改進(jìn)。（注意相同之處不再贅述，請(qǐng)參見GT/ICT測(cè)試儀的相關(guān)說(shuō)明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進(jìn) 

。 
需要說(shuō)明的是，市場(chǎng)上的GT/ICT系列測(cè)試儀有幾個(gè)版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。 

二、對(duì)ASA（VI）曲線測(cè)試的改進(jìn) 
2.1 大大擴(kuò)展了故障覆蓋范圍 
這里擴(kuò)展范圍，是指GT/ICT測(cè)試儀不能測(cè)試，或測(cè)試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測(cè)試，或測(cè)試效果有較大改進(jìn)。 
2.1.1 測(cè)試三端器件 
GT/ICT測(cè)試儀不能全面檢測(cè)三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個(gè)問題。 
三端器件是指閘流管（可控硅）、MOS三管、電壓調(diào)節(jié)器等具有三個(gè)引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個(gè)引出端的器件。下面以閘流 

管（可控硅）為例，來(lái)說(shuō)明GT/ICT-Ⅱ如何改進(jìn)了對(duì)此類元件的測(cè)試。 
用GT/ICT測(cè)試閘流管，當(dāng)ASA（正弦）測(cè)試信號(hào)加在它的陽(yáng)和陰之間時(shí)，控制端沒有信號(hào)，閘流管處于截止?fàn)顟B(tài)，所以從曲線上只能觀察到 

截止?fàn)顟B(tài)是否正常（兩之間是否短路、或有較大漏流），不能發(fā)現(xiàn)導(dǎo)通狀態(tài)是否正常。比如，會(huì)把陽(yáng)和陰開路的故障誤判成截止?fàn)顟B(tài)正 

常。 
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了一個(gè)脈沖信號(hào)，測(cè)試時(shí)加在閘流管的控制端，控制閘流管在ASA（正弦）測(cè)試信號(hào)期間出現(xiàn)導(dǎo)通、截止兩種狀態(tài)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)閘 

流管進(jìn)行全面的檢測(cè)。 
例1：用GT/ICT-Ⅱ測(cè)出的*閘流管的曲線 

圖中橫線是否足夠水平反映了截止?fàn)顟B(tài)是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導(dǎo)通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導(dǎo)通電壓的大小。 

（GT/ICT測(cè)試儀只能測(cè)出一根水平線。） 
測(cè)試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配（同步）形式。為了更好地滿足測(cè)試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ 

上共設(shè)置了八種匹配方式——脈沖相對(duì)于正弦波的起始、結(jié)束位置及寬度、高度均可調(diào)整；支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細(xì)情況請(qǐng)參見產(chǎn)品使 

用說(shuō)明。 
2.1.2 自動(dòng)曲線靈敏度調(diào)整 
GT/ICT測(cè)試儀沒有ASA曲線對(duì)電路變化（故障）的自動(dòng)靈敏度調(diào)整功能，有些本該能夠檢測(cè)出來(lái)的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。 
我們來(lái)比較下面三組電阻的ASA曲線。  

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K 
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實(shí)際電路的相對(duì)變化大小*相同，但看上去中間兩條曲線 

差別大，兩邊的要小得多。我們說(shuō)，中間組的曲線靈敏度高，而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測(cè)試是通過曲線位置差異大小來(lái)發(fā)現(xiàn)故障的，所以 

，在故障測(cè)試中很可能只判斷中間組有問題。 
可以證明，VI曲線的走向趨勢(shì)越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線是一個(gè)封閉圖形，曲線包圍的面積越大，靈敏度越高。 
曲線的靈敏度與被測(cè)試點(diǎn)的特征和測(cè)試參數(shù)相關(guān)。依據(jù)具體的結(jié)點(diǎn)特征，調(diào)整測(cè)試參數(shù)，從而得到較高靈敏度的曲線，叫做調(diào)整VI曲線（關(guān)于 

電路故障的）靈敏度。 
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動(dòng)曲線靈敏度調(diào)整功能。對(duì)于上面三種情況，在選中自動(dòng)靈敏度調(diào)整后，測(cè)到的三組曲線都和中間組一樣。 
2.1.3 測(cè)試大電容 
GT/ICT只能測(cè)試大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測(cè)范圍擴(kuò)大到了兩萬(wàn)微法以上。 
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導(dǎo)致的故障，是一件相當(dāng)令人頭痛的事情。對(duì)維修測(cè)試來(lái)說(shuō)，利用ASA曲線測(cè)試進(jìn)行檢測(cè)可 

能是的辦法。但是GT/ICT測(cè)試儀的測(cè)試范圍小，當(dāng)容量到幾百微法以上時(shí)，本該是一個(gè)橢圓的電容ASA曲線就蛻化成了一根短路線（所包圍 

的面積趨于零），根本無(wú)法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)，對(duì)于高達(dá)兩萬(wàn)多微法的電容，都能測(cè)出一個(gè)包圍了相當(dāng)面積的橢 

圓。 
2.1.4 給同一器件的不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù) 
GT/ICT沒有這個(gè)功能，導(dǎo)致對(duì)有的器件測(cè)試效果差，有的器件無(wú)法測(cè)試。 
用GT/ICT測(cè)試儀測(cè)試一個(gè)有多個(gè)管腳的器件的曲線，所有管腳都只能使用同樣的測(cè)試參數(shù)，所有管腳都要依次測(cè)試一遍。但實(shí)際檢測(cè)中，確實(shí) 

存在不同管腳使用不同測(cè)試參數(shù)，來(lái)保證測(cè)試效果，也存在個(gè)別管腳不允許測(cè)試的情況。 
比如，集電開路器件7403的輸入是標(biāo)準(zhǔn)TTL電平，而輸出大耐壓可達(dá)32V，常用于驅(qū)動(dòng)數(shù)碼管、繼電器等。測(cè)試這種器件，測(cè)試輸入、輸出 

腳的信號(hào)幅度要分別設(shè)置：對(duì)輸入應(yīng)設(shè)在略大于5V；對(duì)于輸出應(yīng)設(shè)置在略大于負(fù)載電壓，小于32V之間（比如驅(qū)動(dòng)12V數(shù)碼管時(shí)一般用15V），才 

能達(dá)到全面檢測(cè)的目的。GT/ICT測(cè)試儀不能滿足這種使用要求。 
還有，電路板上帶電池的存儲(chǔ)器里面有數(shù)據(jù)，在它的電源端、片選端不能加任何測(cè)試信號(hào)，否則會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測(cè)試儀不能測(cè)試這類 

器件。 
GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設(shè)置測(cè)試參數(shù)，也允許不做測(cè)試的管腳。 
2.2 大大提高了測(cè)試可靠性 
測(cè)試可靠性是指測(cè)試結(jié)果能真實(shí)反映實(shí)際情況，不會(huì)導(dǎo)致用戶誤判故障的能力。 
2.2.1 曲線穩(wěn)定性問題 
GT/ICT測(cè)試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線，會(huì)把好電路誤判為有故障。 
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個(gè)管腳上，每次測(cè)到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定 

曲線的原因以及如何讓曲線穩(wěn)定下來(lái)的辦法請(qǐng)參見“電路在線維修測(cè)試儀上的ASA測(cè)試”。《設(shè)備管理與維修》2006.6,2006.7。但測(cè)試儀先 

要能夠把不穩(wěn)定曲線識(shí)別出來(lái)，然后才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為有故障。 
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線識(shí)別出來(lái)，并且能具體指示出哪一個(gè)管腳上的曲線不穩(wěn)定，這無(wú)疑有助于提高測(cè)試結(jié)果的可靠性。 
2.2.2 接觸問題 
使用測(cè)試夾學(xué)習(xí)ASA曲線的時(shí)候，器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測(cè)試夾引腳磨損等原因，經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上，結(jié)果 

學(xué)習(xí)到了一條虛假的開路曲線；比較曲線時(shí)也有同樣問題。這種不可靠的曲線會(huì)導(dǎo)致誤判，所以在實(shí)際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線，都要再次 

確認(rèn)，比如打磨該引腳后重測(cè)。 
問題在于使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，一次測(cè)試要處理許多條曲線。曲線多了以后，往往不能在一屏上一起都顯示出來(lái)。象GT/ICT測(cè)試儀那樣，靠人工 

從許多條曲線中確認(rèn)有無(wú)開路曲線，得來(lái)回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。 
GT/ICT-Ⅱ設(shè)計(jì)了自動(dòng)開路曲線偵測(cè)、提示功能。在一次測(cè)試到的所有曲線中，只要存在開路曲線，會(huì)給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到 

它在哪個(gè)管腳上，很難漏檢。 
2.2.3 平均曲線 
當(dāng)測(cè)試大量的相同對(duì)象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時(shí)，使用從哪個(gè)好的電路板或器件上學(xué)習(xí)到的曲線作為參照標(biāo)準(zhǔn)為呢？ 
使用GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀，可以先學(xué)習(xí)幾個(gè)好的電路板或器件，得到多個(gè)文件，然后利用平均曲線功能，把這些文件中的曲線自動(dòng)求平均后，再自 

動(dòng)生成一個(gè)新的曲線文件，作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。該功能通常用于建立高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)曲線庫(kù)。 
2.3 大大提高了使用效率 
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線（開路、不穩(wěn)定、比較差） 
用測(cè)試夾進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一次會(huì)提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線（開路、不穩(wěn)定、差），并迅速找到異 

常曲線呢？ 
使用GT/ICT，需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍后進(jìn)行判斷。不但效率，而且容易漏判。為此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。 
1．前面已經(jīng)說(shuō)明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動(dòng)檢測(cè)異常曲線。在一次測(cè)試中哪怕只有一條異常曲線，先在屏幕上部顯著位置提示：有開路曲線或有 

不穩(wěn)定曲線或比較差，以引起用戶注意；  
2．在學(xué)習(xí)曲線時(shí)，增加了按先異常、后正常排列方式，將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面；  
3．在曲線比較時(shí)，增加了按曲線誤差大小順序排列的方式，自動(dòng)將誤差較大的曲線排在前面（由于比較時(shí)主要關(guān)心差曲線）； 
4．打開管腳列表窗口，直接提示在管腳號(hào)的旁邊。 
2.3.2 測(cè)試曲線 
一次測(cè)試了多條管腳曲線后，可能對(duì)某個(gè)管腳曲線有疑問，或不太滿意。比如，有異常曲線，要進(jìn)行適當(dāng)處理（比如對(duì)開路曲線，打磨該管腳 

）后重測(cè)；或者想修改某條曲線的設(shè)置參數(shù)后，再重測(cè)該條曲線，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理后，你只要用鼠標(biāo)雙擊某曲線，就 

將僅僅測(cè)試這條曲線，其它曲線*不受影響。方便、快捷。 
2.3.3 由管腳號(hào)查找曲線 
當(dāng)一次測(cè)試的曲線較多，一屏顯示不下時(shí)，要來(lái)回翻屏或滾屏才能查看某個(gè)管腳的曲線，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號(hào)查找曲線的 

功能。只要在腳號(hào)列表窗口中雙擊某腳號(hào)，就自動(dòng)把該管腳的曲線移到屏幕顯示區(qū)，并用彩色框框起來(lái)。十分快捷。 
2.3.4 聲音提示 
雙探棒直接對(duì)照測(cè)試方式相當(dāng)常用。用GT/ICT進(jìn)行測(cè)試時(shí)，每測(cè)試一個(gè)引腳，要先低頭——把兩個(gè)探棒穩(wěn)定接觸在相應(yīng)被測(cè)管腳上，然后再抬 

頭看屏幕——確認(rèn)對(duì)照結(jié)果，一上一下，有人開玩笑稱為“雞啄米”。當(dāng)處理的腳數(shù)多時(shí)，相當(dāng)辛苦且影響效率。 
GT/ICT-Ⅱ上設(shè)置了聲音提示。只要比較不差（這是大多數(shù)情況），計(jì)算機(jī)就發(fā)出“嗒嗒”的提示聲，類似于使用萬(wàn)用表的BEEP擋，基本解決 

了這個(gè)問題。 
2.4 大大改善了人-機(jī)界面友好程度 
2.4.1 三種曲線坐標(biāo) 
GT/ICT只在電壓(V)-電流坐標(biāo)(I)上顯示器件的端口特征曲線，這也是通常把ASA測(cè)試叫做VI曲線測(cè)試的原因。但對(duì)有的測(cè)試結(jié)果，換一種坐標(biāo) 

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標(biāo)系、又有坐標(biāo)系一樣。 
GT/ICT-Ⅱ測(cè)試儀提供三種坐標(biāo)：電壓(V)-電流(I)坐標(biāo)、時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo)和電壓(V)-電阻(R)坐標(biāo)。下面給出*閘流管在兩種不同坐 

標(biāo)下的曲線。 



電壓(V)-電流(I)坐標(biāo) 時(shí)間(T)-電壓(V)坐標(biāo) 
注意右邊的曲線。在測(cè)試（正弦）信號(hào)的四分之一處，控制上的觸發(fā)信號(hào)使閘流管導(dǎo)通，曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘 

流管的飽和電壓。 
2.4.2 在曲線上提示參數(shù)（Tooltips） 
把鼠標(biāo)光標(biāo)放在曲線上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術(shù)顯示出光標(biāo)處的參數(shù)。十分方便。請(qǐng)參見上圖。 
2.4.3 管腳命名 
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號(hào)只是阿拉伯?dāng)?shù)，并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時(shí)候?yàn)椴环奖恪?nbsp;
比如，有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……，豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有 

上百個(gè)，對(duì)有的特別引腳會(huì)有專門標(biāo)識(shí)—常見的是標(biāo)識(shí)它上面的信號(hào)名稱。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名，查找起來(lái)為不便。 
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動(dòng)對(duì)管腳按一維排列方式分配管腳序號(hào)，也允許用戶給管腳命名。序號(hào)和用戶命名同時(shí)提示在相應(yīng)曲線上。查找起來(lái)非常方 

便。 
2.4.4 自定義曲線顯示顏色 
不同人對(duì)顏色有不同偏好。長(zhǎng)期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標(biāo)、字符、背景等的顏色設(shè)置。為自己營(yíng)造 

一個(gè)較為舒服的工作環(huán)境。 

三、對(duì)數(shù)字器件在線功能測(cè)試的改進(jìn) 
數(shù)字器件在線功能測(cè)試，是指對(duì)電路板上的器件直接進(jìn)行邏輯功能好壞的檢測(cè)。對(duì)這項(xiàng)功能的改進(jìn)主要包括三個(gè)方面： 
1．加強(qiáng)對(duì)測(cè)試條件的檢查能力； 
2．加強(qiáng)用戶對(duì)測(cè)試過程的控制； 
3．加強(qiáng)對(duì)被測(cè)試器件的在線工作環(huán)境的識(shí)別能力。 
通過上述改進(jìn)，有效提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。 

3.1對(duì)測(cè)試條件檢查能力的加強(qiáng) 
3.1.1 接觸檢查 
測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不好可能會(huì)造成錯(cuò)誤測(cè)試結(jié)果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測(cè)試夾引腳對(duì)地電阻大于約1M歐時(shí)，會(huì)提示接觸不良（開路）。 
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測(cè)試功能，測(cè)試處于離線狀態(tài)的CMOS器件時(shí)，由于這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都 

會(huì)判成開路。 
實(shí)用中如果測(cè)試失敗并且提示有開路狀態(tài)，應(yīng)確認(rèn)是否屬于正常情況。如果測(cè)試成功，一般可忽略。 
3.1.2 電源電壓檢查 
這項(xiàng)測(cè)試要求必須給被測(cè)電路板加電。TTL器件的標(biāo)稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達(dá)標(biāo)有可能導(dǎo)致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試前會(huì) 

自動(dòng)檢查器件上的電壓是否達(dá)標(biāo)。當(dāng)電源電壓*，將給出警告提示； 
3.1.3 非法電平檢查 
本測(cè)試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測(cè)試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V，小于5V之間。但對(duì)一個(gè)有故障的電路板來(lái)說(shuō)，什 

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試時(shí)一旦檢測(cè)到器件上有過電壓區(qū)間20%的電平值，將立即給以提示。為了安全起見，不再繼續(xù)測(cè)試下 

去。 
3.2對(duì)用戶控制測(cè)試過程的加強(qiáng) 
3.2.1 調(diào)整閾值電平 
當(dāng)TTL器件的輸出低于0.8V，說(shuō)它輸出為低（電平）；高于2.4V，說(shuō)它輸出為高（電平）。這里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標(biāo)準(zhǔn)閾值電平。 

大致上說(shuō)，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調(diào)整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進(jìn)行了擴(kuò)充，允許用戶修改閾值 

電平。比如，允許設(shè)為0.5V，3.0V進(jìn)行測(cè)試。 
這是一項(xiàng)很有價(jià)值的改進(jìn)。實(shí)用經(jīng)驗(yàn)表明，使用在線維修測(cè)試儀測(cè)試一個(gè)真正好的TTL數(shù)字器件，它的高電平會(huì)遠(yuǎn)高于標(biāo)準(zhǔn)高閾值2.4V，低電平 

比標(biāo)準(zhǔn)低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線維修測(cè)試儀的測(cè)試速度比器件的實(shí)際工作速度低很多，分布參數(shù)造成的負(fù)載輕很多；反之， 

如果測(cè)試到一個(gè)器件的高、低電平很接近標(biāo)準(zhǔn)閾值，這往往表示該器件的驅(qū)動(dòng)能力已明顯下降，雖然能通過測(cè)試，但不能保證上機(jī)正常工作， 

換掉。 
3.2.2 修改測(cè)試頻率 
GT/ICT-Ⅱ的測(cè)試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測(cè)試向量/每秒）。缺省值為20Ktv/S。實(shí)際測(cè)試時(shí)，可根 

據(jù)具體情況選用。比如74HC類低功耗器件，測(cè)試失敗后可降低速度再試一次。 
3.2.3 加電延遲時(shí)間 
在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，GT/ICT-Ⅱ自動(dòng)控制給電路板加電——測(cè)試一個(gè)器件的瞬間接通電源，測(cè)試完成后關(guān)斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路 

扳，帶來(lái)的問題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容，加電后，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時(shí)間后才能達(dá)到預(yù)期值 

。不同大小的電路板需要的延遲時(shí)間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設(shè)定接通電源延遲多長(zhǎng)時(shí)間后開始測(cè)試。 
3.3對(duì)器件在線工作環(huán)境識(shí)別能力的加強(qiáng)  
測(cè)試電路板上的器件時(shí)必須使用適當(dāng)?shù)母綦x技術(shù)來(lái)消除關(guān)聯(lián)器件對(duì)被測(cè)試器件的影響。后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)專門用于數(shù)字器件的在線測(cè)試隔離。 
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)有一定的使用條件，不滿足這些條件就會(huì)由于隔離不成功而測(cè)試失敗，把好器件測(cè)成壞器件。對(duì)在線器件工作環(huán)境的識(shí)別，就是盡 

量把影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)正確使用的情況檢查出來(lái)，避免誤判。 
3.3.1后驅(qū)動(dòng)技術(shù)原理及應(yīng)用中的問題 
后驅(qū)動(dòng)技術(shù)是美國(guó)人在上世紀(jì)60年代發(fā)明的?？珊?jiǎn)單說(shuō)明如下： 
電路結(jié)點(diǎn)一般由器件的一個(gè)輸出和若干個(gè)輸入組成。參見圖一。設(shè)測(cè)試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結(jié)點(diǎn)上施加測(cè)試信號(hào)。由于決定結(jié)點(diǎn) 

電位的是器件輸出而不是輸入，參見圖中的X結(jié)點(diǎn)，在該結(jié)點(diǎn)上加信號(hào)實(shí)質(zhì)上是如何驅(qū)動(dòng)U1的、與X引腳關(guān)聯(lián)的輸出，使它能夠根據(jù)測(cè)試要求為 

高或?yàn)榈?。U3的輸出可以直接取回來(lái)。 
假定X結(jié)點(diǎn)當(dāng)前狀態(tài)為低電平，怎樣把它驅(qū)動(dòng)至高電平呢？參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結(jié)構(gòu)。 


輸出低電平時(shí)，Q1截止，Q2飽合，這個(gè)低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為：β2*Ib2>>Ic2。通過測(cè)試儀給Q2的集電 

注入一個(gè)足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會(huì)升起來(lái)。問題在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會(huì)隨Ic2、Vce2的增加迅速增 

加到P > Pcm（大額定功耗）。這是否會(huì)損壞Q2呢？后驅(qū)動(dòng)技術(shù)證明，只要驅(qū)動(dòng)時(shí)間不過26毫秒，不會(huì)有問題。在發(fā)達(dá)，滿足這個(gè)時(shí)間 

要求的在線測(cè)試儀器允許用于設(shè)備。 
對(duì)于輸出為高而要驅(qū)動(dòng)為低的情況，分析方法相同，只是把向Q2集電灌電流改為從Q1發(fā)射拉電流。 
從以上對(duì)后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的說(shuō)明可以看出： 
1．后驅(qū)動(dòng)技術(shù)用于隔離數(shù)字器件之間的關(guān)聯(lián)對(duì)測(cè)試的影響； 
2．假定一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)由一個(gè)輸出多個(gè)輸入組成； 
3．被測(cè)試器件上不能有其它邏輯信號(hào)； 
4．不能處理異步時(shí)序電路。 
然而在實(shí)際電路板上，確實(shí)存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關(guān)聯(lián)（比如數(shù)字器件輸出驅(qū)動(dòng)晶體管基、運(yùn)放驅(qū)動(dòng)數(shù)字器件輸入）、一個(gè)電路結(jié)點(diǎn) 

上有不止一個(gè)數(shù)字器件輸出（比如數(shù)據(jù)總線）、被測(cè)器件上有其它邏輯信號(hào)（比如板上有晶振）等等。這些情況經(jīng)常會(huì)影響后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的正確 

使用（一般稱作隔離不開），會(huì)導(dǎo)致不正確的測(cè)試結(jié)果。 
3.3.2 對(duì)和非數(shù)字器件相關(guān)聯(lián)的處理 
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結(jié)點(diǎn)電位被非數(shù)字器件鉗死，或者驅(qū)動(dòng)信號(hào)被非數(shù)字器件吸收，加不上去（也相當(dāng)于電平被鉗位）。下 

圖中給出了兩種常見的結(jié)構(gòu)。 

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識(shí)別出來(lái)，以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶，當(dāng)器件測(cè)試失敗后，供用戶進(jìn)一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識(shí)別出6種與此相關(guān) 

的管腳狀態(tài)： 
電 源：恒高且為電源腳； 
恒 高：不可驅(qū)動(dòng)至低于高閾值； 
不可高：不可驅(qū)動(dòng)至高于高閾值； 
不可低：不可驅(qū)動(dòng)至低于低閾值； 
恒 低：不可驅(qū)動(dòng)至高于低閾值； 
地 ：恒低且為地腳。 
3.3.3 對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)的處理 
對(duì)多輸出結(jié)點(diǎn)通常要用總線競(jìng)爭(zhēng)屏蔽信號(hào)（GUARD信號(hào)）去解除非被測(cè)試器件的輸出對(duì)被測(cè)器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測(cè)試儀沒有 

GUARD信號(hào)、有的版本只有1、2個(gè)GUARD信號(hào)—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號(hào)不可控，僅是通過一個(gè)小電阻接到電源上——這 

不符合后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求，會(huì)損壞被屏蔽器件。（詳細(xì)說(shuō)明請(qǐng)參閱有關(guān)文章） 
GT/ICT-Ⅱ設(shè)置了8個(gè)*后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的要求GUARD信號(hào)，并且用戶可控。 
3.3.4 對(duì)板上有邏輯信號(hào)的處理 
電路板上的邏輯信號(hào)可能干擾正確測(cè)試。GT/ICT-Ⅱ在測(cè)試前會(huì)進(jìn)行檢查。如果在被測(cè)器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號(hào)，會(huì)作為一種管腳狀態(tài)“有 

翻轉(zhuǎn)”提示出來(lái)。由于這種情況可能影響、也可能不影響測(cè)試結(jié)果，所以當(dāng)測(cè)試成功后，可忽略；當(dāng)測(cè)試失敗時(shí)，才需要用戶處理。 
3.3.5輸入浮動(dòng) 
管腳狀態(tài)“輸入浮動(dòng)”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對(duì)該器件的測(cè) 

試，但它反映了電路板上一個(gè)可能的故障，所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來(lái)。 
3.4 提高測(cè)試準(zhǔn)確性的一般方法 
從以上討論可以看出，受測(cè)試條件、器件工作環(huán)境的影響，在線測(cè)試的結(jié)果有一定的不確定性。從進(jìn)口測(cè)試儀產(chǎn)品來(lái)看，主要通過兩種辦法來(lái) 

提高測(cè)試的準(zhǔn)確性： 
1．加強(qiáng)對(duì)影響測(cè)試結(jié)果的外部因素的識(shí)別能力。在測(cè)試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn)，就是的測(cè)試儀能識(shí)別的管腳狀態(tài)種類多，低檔的能識(shí)別的狀 

態(tài)少。比如某進(jìn)口測(cè)試儀能識(shí)別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識(shí)別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。 
2．由于在線測(cè)試的不確定性，把整個(gè)測(cè)試過程盡量詳細(xì)的顯示出來(lái)，供用戶結(jié)合測(cè)試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析，這幾乎可以說(shuō)是在線測(cè)試的基本設(shè) 

計(jì)原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個(gè)原則。遺憾的是某些國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀的設(shè)計(jì)者沒有真正理解這一點(diǎn)，有些測(cè)試功能僅給出“測(cè)試通過” 

、或“測(cè)試失敗”的提示，測(cè)試過程幾乎沒有提示。 

四、結(jié)語(yǔ) 
電路在線維修測(cè)試儀所依據(jù)的技術(shù)原理并不復(fù)雜，但是依據(jù)同樣這些技術(shù)做出的測(cè)試儀產(chǎn)品卻是千差萬(wàn)別，而且許多差別，是在你比較深入的 

了解了這項(xiàng)技術(shù)，有了相當(dāng)?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會(huì)得到。希望本文能對(duì)進(jìn)一步了解這種產(chǎn)品提供幫助。

自動(dòng)抑菌圈測(cè)定儀系統(tǒng)  型號(hào)：CC-F

一、 用途：用于自動(dòng)進(jìn)行抑菌圈測(cè)量、抗生素效價(jià)分析等 
二、 主要性能參數(shù)指標(biāo)： 
1 成像★ 
² 配Epson Perfection V330 Photo微立體彩色掃描成像儀（4800dpi、19mm大景深、微透鏡12 線矩陣CCD），亮度可調(diào)、自動(dòng)聚焦，能實(shí)現(xiàn)光學(xué)分辨率2960萬(wàn)像素的懸浮式暗視野成像，色彩深度48位 
² 適應(yīng)培養(yǎng)皿：50～180mm及A4幅面內(nèi)的矩形平板，同時(shí)測(cè)定6個(gè)90mm平皿（傾注、涂布、膜濾、螺旋平皿、3M紙片） 
2 抑菌圈測(cè)量（含抗生素效價(jià)自動(dòng)分析）★ 
² 一鍵式全自動(dòng)測(cè)定6個(gè)90mm直徑平皿中的所有抑菌圈，可全自動(dòng)測(cè)定局部粘連的抑菌圈，可在有局部文字干擾的情況下，自動(dòng)獲得抑菌圈面積、直徑等結(jié)果。測(cè)量分析耗時(shí)1～4秒鐘，能統(tǒng)一保存或查看閱讀相關(guān)各類分析數(shù)據(jù) 
² 平皿可任意方向擺放。具有抑菌圈樣本自動(dòng)挑選、保真的可視化比對(duì)、編輯功能。抑菌圈測(cè)量系統(tǒng)的分辨率≤0.001mm、重復(fù)測(cè)量誤差≤0.3%；效價(jià)測(cè)量誤差≤0.3%；效價(jià)重復(fù)測(cè)量誤差≤0.3%；臺(tái)間測(cè)量差異≤0.2% 
² 符合中國(guó)藥典、USP美國(guó)藥典、EP歐洲藥典，可完成新的國(guó)家藥典(2010版)一、二、三劑量及合并計(jì)算，以及全部菌種的抗生素效價(jià)分析。具有效價(jià)的組合優(yōu)化分析特性。 
3 數(shù)據(jù)導(dǎo)出：分析結(jié)果可保存，自動(dòng)形成Excel或PDF文檔報(bào)告?！镘浖哂性诰€升級(jí)特性。 
4 測(cè)量功能：全自動(dòng)尺寸標(biāo)定，也可人工標(biāo)定?？墒髽?biāo)拖動(dòng)測(cè)量長(zhǎng)度、角度、弧度、面積、弧線、任意曲線。 
5  系統(tǒng)配置： 
² CC-F型自動(dòng)抑菌圈測(cè)量分析軟件、鎖及附件  1套 
² Epson Perfection V330 Photo微立體彩色掃描成像儀   1臺(tái) 
注：本技術(shù)標(biāo)書中打★款項(xiàng)必須響應(yīng)，否則為重大偏離 
推薦選配：聯(lián)想一體機(jī)電腦（雙核CPU /內(nèi)存2.0G/512M獨(dú)立顯卡/硬盤500G /DVD-RM/ 20”彩顯/無(wú)線網(wǎng)卡，Windows XP或Windows 7系統(tǒng)）